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Placas onduladas
Capacidades
Ya sea que necesite pequeñas cantidades para la creación de prototipos o un gran volumen de fabricación para impresión para sistemas OEM, tenemos las capacidades de fabricación de placas onduladas para garantizar el éxito de su proyecto.
| Material: | Cristal de cuarzo |
| Distorsión del frente de onda: | hasta onda/10 @ 632,8 nm |
| Tolerancia de retardo: | onda/500 |
| Paralelismo: | < 1 segundo de arco. |
| Calidad de la superficie: | hasta 10-5 |
| Apertura clara: | >90% |
| Revestimiento: | bajo requerimiento, LIDT alto disponible |
| Escribe | Rasgo | |
| Orden cero | cementado | Cementado con pegamento |
| Mejor ancho de banda de temperatura | ||
| Ancho de banda de longitud de onda amplia | ||
| Umbral de daño moderado | ||
| Contacto óptico | Sin pegamento | |
| Mejor ancho de banda de temperatura | ||
| Ancho de banda de longitud de onda amplia | ||
| Mejor umbral de daño | ||
| Buen frente de onda y paralelismo. | ||
| Espacio aéreo | Sin pegamento, Montado | |
| Mejor ancho de banda de temperatura | ||
| Ancho de banda de longitud de onda amplia | ||
| Umbral de daño alto | ||
| Orden cero verdadero | cementado | Cementado con pegamento |
| Mejor ancho de banda de temperatura | ||
| Ancho de banda de longitud de onda amplia | ||
| Umbral de daño moderado | ||
| Excelente rendimiento de retardo | ||
| Placa única | plato único | |
| Mejor ancho de banda de temperatura | ||
| Ancho de banda de longitud de onda amplia | ||
| Umbral de daño alto | ||
| Sólo 1310 nm, 1550 nm disponibles | ||
| Orden múltiple | Ancho de banda de baja temperatura | |
| Ancho de banda de longitud de onda baja | ||
| Umbral de daño alto | ||
| Bajo costo | ||
| Acromático | Mejor ancho de banda de temperatura | |
| Ancho de banda de longitud de onda muy amplio | ||
| Cementados y espaciados con aire disponibles | ||
Equipos de medición óptica
OptiSpheric 2000 AF
| Parámetros de medición | EFL, R, desviación central, FFL, BFL, MTF, ángulo de cuña (paralelismo) |
| rango de prueba de inglés como lengua extranjera | +1 ~ +2000 mm -1 ~ -1500 mm |
| Precisión de la medición de inglés como lengua extranjera | 0,03% ~ 0,30% |
| Rango de prueba R,BFL | ±1mm ~ ±750mm |
| Precisión de medición R BFL | 0,05% ~ 0,30% |
| Rango de prueba de desviación central | ±1mm ~ ±2000mm |
| Medición de desviación central exactitud | ±0,2 um o ±2 segundos de arco |
| Ángulo de cuña (paralelismo) precisión de la medición | ±1 segundo de arco |
Ultraesferotrónico
| Aplicaciones y mediciones | Medición del radio de curvatura esférica de contacto |
| Rango de prueba del radio de curvatura | L±6mm ~ ∞ |
| Diámetro de la muestra a analizar. | 10 ~ 500 mm |
| Precisión de medición del radio de curvatura | 0.005% |
| Distancia de trabajo del codificador lineal | ±30mm |
| Precisión absoluta del codificador lineal |
0.05um |
Ultraesferotrónico
| Modo de medición | Método de reflexión para medir el ángulo entre dos superficies pulidas adyacentes de un prisma. |
| Rango de medición | 0 ~ 360° |
| Precisión de la medición | Medida única: 0,50" Múltiples medidas: 0,20" |
| Resolución del codificador rotatorio | 0,036” |
| Precisión del codificador rotatorio | 0,20” |
Interferómetro Zygo GPI
| Diámetro de lente estándar | 100 mm |
| Precisión de lente estándar plana | Lambda/20 a 633 nm |
| Repetibilidad de la medición | Lambda/100 a 633 nm |
| Número F de lente estándar esférica | F/0,65, F/1,6, F/3,3, F/7,0, F/1,0, F/10,7 |
| Precisión de lente estándar esférica | Lambda/10 a 633 nm |
Espectrofotómetro Lambda 950
| Aplicaciones y mediciones | transmitancia y medición de reflectancia de componentes planos |
| rango de onda | UV/VIS/IR (185nm ~ 3300nm) |
| Resolución de subbanda UVVis | ≤0,05 nm |
| Resolución de banda infrarroja | ≤0,20 nm |
| Luz parásita a 220 nm y 340 nm y 370 nm | ≤0,00007%T |
| repetibilidad de longitud de onda | ≤0,20 nm |
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